CIS30-S 지능형 청결도 분석 시스템

지능형 분석 기술

CIS30-S 지능형 청결도 분석 시스템은 첨단 광학 이미징, 지능형 알고리즘 및 자동화된 워크플로우 관리를 통합한 자동화 기술의 획기적인 발전입니다. 이 시스템은 혁신적인 원클릭 작동 방식을 통해 기존 현미경 분석의 복잡성을 제거하고, 모든 숙련도 수준의 사용자가 전문가 수준의 청결도 분석을 손쉽게 수행할 수 있도록 합니다.

핵심 지능은 여러 획기적인 기술에서 비롯됩니다.특허받은 디지털 조명 시스템(특허 번호: ZL 201721784091.X) 이 시스템은 단일 스캔으로 금속 및 비금속 입자를 동시에 식별할 수 있어 기존 방식에 비해 분석 시간을 50% 획기적으로 단축합니다.스마트 확대 인식대물렌즈를 교체할 때 측정 눈금을 자동으로 보정하여 다양한 배율 수준에서 일관된 정확도를 보장합니다. 여기에 더해 다음과 같은 기능이 추가됩니다.임계값 설정VDA19 규격을 준수하여 입자 감지 및 분류에서 인적 오류를 제거합니다.

고급 이미징 기능

CIS30-S의 핵심은 청정도 분석을 위해 특별히 설계된 정교한 광학 시스템입니다. 이 시스템은 연구용 등급의 ​​무한 보정 광학계와 12.5:1 줌 배율을 통합하여 ISO16232-7 및 VDA19.1 표준을 준수하는 15μm 크기의 미세 입자까지 검출할 수 있습니다. 이미징 시스템은 고해상도 산업용 카메라(소니 IMX265 센서, 2064×1544 해상도)와 글로벌 셔터 기술을 사용하여 초당 53프레임으로 선명하고 왜곡 없는 이미지를 촬영합니다.

이 시스템의 조명 기술은 입자 분석 분야에서 새로운 기준을 제시합니다.지능형 디지털 조명 시스템이 장비는 표준 조명 모드와 편광 조명 모드를 모두 제공하여 반사 특성을 기반으로 금속 입자와 비금속 입자를 명확하게 구분할 수 있습니다. 금속 입자는 표준 조명에서는 반사되어 보이지만 편광 조명에서는 어둡게 변하는 반면, 비금속 입자는 두 조명 조건 모두에서 일관된 모습을 유지합니다. 이러한 이중 모드 분석을 통해 여러 번 스캔할 필요 없이 정확한 재질 분류가 가능합니다.

자동화된 워크플로 기능

CIS30-S는 복잡한 분석 절차를 간소화된 자동화 프로세스로 전환합니다.원클릭 스마트 모드스캐닝 및 입자 감지부터 분류 및 보고에 이르기까지 모든 분석 단계를 단일 작업으로 통합합니다. 자동 초점, 스테이지 이동, 이미지 캡처 및 데이터 분석이 포함되어 작업자 교육 요구 사항을 크게 줄이고 여러 사용자가 일관된 결과를 얻을 수 있도록 합니다.

시스템의 분석 기능은 고급 소프트웨어 알고리즘에 의해 구동됩니다. 해당 소프트웨어에는 다음이 포함됩니다.자동 입자 인식이 시스템은 사전 정의된 기준(예: 길이 ≥100μm, 섬유 식별을 위한 종횡비 쉬쉬10)에 따라 금속 입자, 비금속 오염 물질 및 섬유를 구분합니다. 다양한 입자 크기 측정 알고리즘을 지원하며, 내장된 ISO16232 및 VDA19 프로토콜 외에도 사용자가 맞춤형 분석 표준을 정의할 수 있습니다.교량 건축프로젝트의 모든 데이터를 관리하여 다양한 매개변수를 사용하여 손쉽게 검토, 편집 및 재분석할 수 있습니다.

측정 정확도 및 추적성

정확성은 다양한 검증 메커니즘을 통해 보장됩니다. 시스템에는 다음이 포함됩니다.인증 참조 물질제3자 인증서를 통해 국가 및 국제 표준에 대한 추적성을 보장합니다. 이 참조 표준은 47mm 영역에 걸쳐 50~1000μm 범위의 입자가 분포되어 있어 기기 성능 및 측정 일관성을 정기적으로 검증할 수 있습니다. 자동 교정 시스템은 내장된 스케일 검증 및 배경 보정 도구를 통해 시간이 지나도 측정 정확도를 유지합니다.

시스템의3D 분석 기능이 장비는 기본적인 입자 계수를 넘어 포괄적인 지형 정보를 제공합니다. 높이 측정, 부피 계산, 표면적 분석 등이 포함되며, 특히 실제 응용 분야에서 입자의 거동을 이해하는 데 매우 유용합니다. 대형 스캐닝 스테이지(이동 범위 125×75mm)는 0.1μm 해상도로 전체 필터 분석을 지원하며, 전동식 노즈피스는 여러 위치에서 정밀한 위치 조정을 가능하게 합니다.

맞춤형 보고 및 데이터 관리

다양한 조직 요구 사항을 충족하는 유연한 보고 기능을 제공합니다. 이 시스템은 입자 크기 분포, 재료 분류 및 오염원 분석을 포함한 종합적인 분석 보고서를 생성합니다. 보고서는 고객의 특정 템플릿에 맞춰 맞춤 설정할 수 있으며, PDF, 뛰어나다 등 다양한 형식으로 내보낼 수 있습니다.Q-디츠 데이터 상호 연결 플랫폼제조 실행 시스템(메스)과의 원활한 통합을 지원하여 실시간 품질 모니터링 및 추세 분석을 가능하게 합니다.

프로젝트 관리 기능을 통해 체계적인 데이터 처리가 가능합니다. 시스템은 원본 이미지, 측정 데이터 및 분석 매개변수를 포함한 전체 분석 프로젝트를 보관합니다. 고급 검색 기능을 통해 프로젝트 이름, 날짜 또는 특정 기준으로 신속하게 데이터를 검색할 수 있습니다. 보안 기능은 모든 분석 단계와 매개변수 변경 사항을 추적하는 감사 기록을 제공하여 결과의 ​​무결성을 보장합니다.

응용 프로그램 및 산업 규정 준수

CIS30-S는 특정 규정 준수 요건이 필요한 다양한 산업 분야에 사용됩니다. 자동차 제조 분야에서는 VDA19 표준에 따라 부품의 청결도를 보장합니다. 반도체 분야에서는 미크론 크기의 오염 물질을 정밀하게 감지하는 기능을 통해 이점을 얻을 수 있습니다. 또한, 이 시스템은 미세 입자 오염 제어가 중요한 항공우주, 의료기기 및 정밀 엔지니어링 산업에도 적합합니다.

정기적인 유지보수 및 교정을 통해 장기적인 신뢰성을 확보할 수 있습니다. 모듈식 설계로 구성 요소 교체 및 업그레이드가 용이하며, 안정적인 기계식 플랫폼과 온도 보상형 광학 장치는 다양한 환경 조건에서도 정밀도를 유지합니다. 포괄적인 교육 및 지원 자료를 통해 사용자는 시스템 활용도를 극대화하고 인증 요건을 준수할 수 있습니다.

구글 코어 최적화 키워드

1. 지능형 청결도 분석 시스템

2. 자동 입자 계수 현미경

3. CIS30-S 청결도 측정기

4. ISO16232 준수 테스트

5. VDA19 입자 분석

6. 자동 현미경 시스템

7. 입자 오염 분석

8. 산업 청결도 테스트

9. 자동 이미지 분석 시스템