CIS-LIBS 레이저 원소 분석 시스템

CIS-LIBS 시스템은 원클릭 작동으로 전처리 없이 3초 만에 결과를 제공하여 원소 분석 방식을 혁신합니다. 레이저 유도 파괴 분광법(LIBS)을 활용하여 입자 내 구리/알/철 원소를 검출하며, 진공/전도도 처리가 필요 없고, 여러 대의 장비를 사용하던 기존의 작업 흐름을 하나의 소형 장비로 대체합니다. 자동차, 반도체 및 정밀 제조 분야에 이상적입니다.

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CIS-LIBS Laser Element Analysis System

그만큼CIS-LIBS 레이저 원소 분석 시스템이 제품은 복잡한 기존 워크플로우를 대체하도록 설계된, 빠르고 비파괴적인 입자 구성 성분 검출을 위한 최첨단 솔루션입니다. 고급 LIBS 기술과 지능형 자동화를 통합하여, 사용자는 전처리 없이 공기 중에서 단 3초 만에 입자의 원소 구성(예: 구리, 알, 철)을 직접 식별할 수 있습니다.

핵심 구성 요소 및 기술

이 시스템은 원활한 분석을 위해 고정밀 하드웨어를 결합합니다.

나노초 자외선 레이저좁은 펄스 폭, 높은 피크 출력 및 긴 수명을 특징으로 하여 최소한의 손상으로 입자 표면을 정밀하게 제거할 수 있습니다. 다음 장비와 함께 사용 가능합니다.자외선 레이저 대물렌즈(높은 개구수, 높은 투과율, 작은 스팟 크기)로 인해 집중적인 에너지 전달이 보장됩니다.
분광계다중 채널 설계로 넓은 파장 범위, 높은 해상도 및 감도를 제공하며, 절삭된 입자에서 발생하는 이온화된 빛을 포착합니다.
고속 카메라2.3MP 센서(1920×1080 해상도), 초당 480프레임의 촬영 속도, 넓은 시야각을 갖추고 있어 분석을 위한 관심 영역(투자수익률(ROI))을 찾는 데 도움이 됩니다.
전동식 무대대형 부품 스캔을 지원하는 대형 이동 플랫폼(고해상도, 고속)과 소프트웨어 제어 및 조이스틱을 통한 정밀 위치 지정 기능을 제공합니다.
올림푸스 BX53M 광학 경로: 명시야 금속 조직 이미징을 통해 높은 광학적 품질을 보장하며, 데이터 통합을 위해 콤솔 다중물리 및 치사한 사람 소프트웨어와 호환됩니다.

작동 원리: 무선 기반 원클릭 분석

이 시스템은 요소 감지를 5단계의 자동화된 절차로 간소화합니다(그림 1 참조).

자외선 레이저 절제술집중된 나노초 자외선 레이저가 입자 표면을 조사하여 표면 원소를 이온화합니다.
플라즈마 방출이온화된 원소들이 재결합하면서 특유의 빛 스펙트럼을 방출합니다.
분광계 캡처분광기는 빛을 모아서 파장 대역별로 분리하여 원소의 특징을 식별합니다.
데이터베이스 매칭내부 데이터베이스가 스펙트럼을 원소(예: 구리, 알, 철)와 자동으로 매칭하고 농도를 정량화합니다.
보고서 생성입자의 구성 및 분포를 자세히 설명하는 전체 입자 물질 보고서가 생성됩니다.

기존 원소 분석 방식 대비 장점

기존 워크플로우(그림 2)와 비교했을 때, CIS-LIBS는 핵심적인 문제점들을 해결합니다.

전처리 없음공기 중의 입자를 직접 분석합니다. 절단, 분쇄, 진공 챔버 또는 전도도 처리가 필요하지 않습니다. 크기나 모양에 관계없이 모든 대상을 분석할 수 있습니다.
단일 장치 효율성여러 장비(현미경 + 전처리 장치 + 분석기)로 구성된 시스템을 하나의 소형 장치로 대체하여 비용과 공간을 절감합니다.
빠른 결과 확인원클릭 조작으로 3초 만에 요소 식별을 제공하여 분석 시간을 몇 시간에서 몇 초로 단축합니다.
낮은 숙련도 요구 사항: 기본적인 교육을 받은 작업자도 분석을 수행할 수 있으며, 기존의 고난이도 장비와는 달리 특별한 전문 지식이 필요하지 않습니다.