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주사형 야간투시 현미경
주사형 네바다 현미경은 다이아몬드 질소-공극 중심의 광학적으로 검출된 자기 공명(오드므르)과 주사 탐침 기술을 결합한 양자 정밀 측정 장비입니다. 스핀트로닉스, 다강체, 2차원 자기 물질, 초전도체 등 다양한 분야의 연구에 적용할 수 있습니다.
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쉬운-G 1310M 가스 피크노미터
쉬운-G 1310M 가스 피크노미터는 진밀도 측정에서 ±0.02%의 정확도와 ±0.01%의 반복성을 제공합니다. 3개의 시료 챔버, 13.3인치 내장 컴퓨터, 통합 파이프라인 시스템, 그리고 이중 압력 모드(음압/양압)를 갖추고 있습니다. 분말, 배터리, 석탄, 토양, 식품 등 다양한 시료에 적합하며, 신속한 산업 품질 관리(QC) 기능을 제공합니다.
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비표면적 및 기공도 분석기 쉬운-V
쉬운-V 시리즈 제품은 정적 부피 측정법을 이용하여 비표면적 및 기공 크기 분석을 수행합니다. 전 세계 여러 대학 및 연구 기관에 공급되어 사용자들로부터 높은 평가를 받고 있습니다. 이 시리즈는 완전 자동화 시스템을 갖추고 있으며, 사용자 친화적이고 배우기 쉬운 인터페이스를 제공합니다. 또한, 여러 국제 인증을 획득하여 세계 최고 수준의 기술력을 자랑합니다. 뛰어난 가성비로 투자 가치를 극대화하고, 다양한 제품 구성으로 사용자의 요구를 충족할 수 있습니다.
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클라이머 시리즈 비표면적 및 다공성 분석기
클라이머 시리즈 비표면적 및 기공 크기 분석기는 빠르고 정확하며 안정적인 테스트를 위해 설계되었으며, 최대 6개의 샘플을 동시에 분석할 수 있습니다. 주요 기능은 다음과 같습니다. 고체, 슬러리 및 분말의 비표면적 및 기공 크기 분포 측정. 비표면적 분석은 0.0005 m²/g부터 시작합니다. 기공 크기 분석 범위는 0.35~500 나노미터 (정밀 분석 2~500 나노미터, 일반 분석 0.35~2 나노미터)입니다. 5개 항목으로 구성된 내기 테스트를 20분 이내에 완료합니다.
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W900 W-밴드 고주파 EPR 분광기
W900은 94GHz에서 작동하여 무질서한 시스템에서 탁월한 스펙트럼 및 방향 분해능을 제공합니다. 이 장비는 W 대역 마이크로파 브리지(93.5~94.5GHz, 30mW 연속파/2W 펄스), ±1000 가우스 스캔 코일을 갖춘 6자유 초전도 자석, 그리고 고Q 공진기(4000 이상의 Q값, 93.7~94.4GHz)를 특징으로 합니다. 자동화된 연속파/펄스 실험(사슴/EDNMR/지지합니다)을 위한 EPR 프로CT 소프트웨어와 함께 사용하면 정밀한 양자 물질 및 라디칼 분석이 가능합니다.
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EPR 시리즈 분광기 및 공명기
EPR 시리즈는 고급 공진기(PW-4201-닥터, 높은-Q, 듀얼 모드)를 탑재한 X-밴드 CW(EPR300) 및 펄스(EPR100) 분광기를 결합한 제품입니다. EPR100은 200mW CW/펄스 출력, 500W SSPA, 4ns의 시간 분해능을 제공하며, EPR300은 10,000:1의 SNR과 Q 대역 확장을 지원합니다. 공진기는 400MHz FWHM(PW-4201-닥터), 18,000 이상의 Q 인자(높은-Q), 듀얼 모드 주파수를 특징으로 합니다. 자동화된 워크플로우와 다핵 검출이 가능한 재료 과학, 화학, 양자 연구에 이상적입니다.
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CAN400 지능형 액체 상태 NMR 분광기
CAN400은 9.39 테슬라, 400MHz의 초전도 자석과 54mm 내경을 탑재하여 초고균일성을 제공합니다. 분산형 콘솔은 2~8개의 RF 채널, 4ns의 타이밍 해상도, 소프트웨어 제어 전력 관리를 지원합니다. 72슬롯 자동 시료 교환기, 지능형 터치스크린, 다핵 프로브를 갖추고 있어 신속하고 자동화된 분석이 가능합니다. 화학, 에너지, 제약 분야에 이상적이며, 현장 실험, 원격 접속, 배터리 연구부터 신약 스크리닝까지 다양한 응용 분야에 활용할 수 있습니다.
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주사전자현미경(SEM)-X 시리즈 초고해상도 쇼트키 전계 방출 주사 전자 현미경
주사전자현미경(SEM)-X 시리즈는 획기적인 해상도(0.6nm@15kV, 1.2nm@1kV)와 저전압 이미징을 제공하여 시료 손상을 최소화합니다. "슈퍼 터널" 전자 광학계, 정전기-전자기 복합 렌즈, 그리고 이중 빔 감속 기술을 통합하여 수차 없는 성능을 구현합니다. 저진공 모드(10-180Pa), 8인치 로드록 호환, 그리고 다양한 분석을 위한 다중 검출기 시스템(UD-남동부/비에스, LD, LVD) 등의 기능을 갖추고 있습니다. 반도체, 재료 과학, 생명 과학 분야에 이상적이며, 연구 응용 분야에 자동화 및 확장성을 제공합니다.
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DB550 가+ 집속 이온 빔 전계 방출 주사 전자 현미경
DB550은 가+ 집속 이온 빔(악의 없는 거짓말) 컬럼과 전계 방출 주사 전자 현미경(FE-주사전자현미경(SEM))을 통합한 장비로, "슈퍼 터널" 전자 광학계(저수차, 무자성 렌즈), 3nm@30kV의 이온 분해능, 0.9nm@15kV의 주사전자현미경(SEM) 분해능을 제공합니다. 또한 나노 조작기(≤10nm 정밀도), 가스 주입 시스템(단일 GIS, ±0.1°C 온도 제어), 8인치 로드록 호환 기능을 갖추고 있습니다. 자동화된 워크플로우와 확장 가능한 검출기(EDS/EBSD/줄기)를 통해 나노 제작, 반도체 고장 분석, 재료 특성 분석에 이상적입니다.
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전계 방출 투과 전자 현미경
TH120 120kV 전계 방출 투과 전자 현미경(TEM)은 쇼트키 방출 건, 평행/수렴 빔 자동 전환 기능, 대칭형 대물렌즈를 통합했습니다. 고해상도 CMOS 카메라, 4축 스테이지, 통합 소프트웨어를 특징으로 합니다. 분리된 작업 공간은 간섭을 최소화하고, 자동화된 워크플로우는 효율성을 높이며, 업그레이드가 용이한 설계로 다양한 연구 개발 요구 사항을 충족합니다.
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HEM6000 고속 주사 전자 현미경
고속 스캐닝 드라이버 체류 시간: 10 ns/픽셀; 최대 획득 속도: 2×100M 픽셀/초 전자 필터링 시스템 남동부/비에스 신호를 자유롭게 전환할 수 있으며, 신호 혼합 비율을 조절할 수 있습니다. 완전 정전식 고속 편향 시스템 이 기술은 고해상도 대형 시야 모드를 구현할 수 있습니다. 4nm 픽셀 크기로 최대 시야각은 32μm×32μm에 달합니다. 샘플 단계 감속 기술 이는 입사 전자의 착지 전압을 낮추는 동시에 재활용 전자의 수집 효율을 향상시킵니다. 침수형 전자기 복합 대물렌즈 대물렌즈의 자기장이 시료를 감싸면서 낮은 수차와 높은 해상도를 구현합니다.
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