C-샘/앉았다(주사음향현미경)
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C-샘/앉았다(주사음향현미경)

C-샘/SAT는 5~500MHz 대역폭, 1200mm/s 스캔 속도, 그리고 다중 모드(수동/반자동/자동) 작동을 통해 비파괴 초음파 이미징을 제공합니다. 샘 자동 Line은 팔레트 순환, 자동 검토 소프트웨어, 로봇 핸들링을 통해 IGBT/MEMS의 결함(기공, 박리)을 자동으로 감지하여 반도체 및 의료기기의 정밀하고 효율적인 품질 관리를 보장합니다.

C-샘/앉았다(주사음향현미경)

제품 상세 정보 

그만큼C-샘/앉았다(주사음향현미경)SBT에서 개발한 이 기술은 반도체, 의료기기 및 첨단 제조 분야에서 불투명 재료의 비파괴 품질 관리에 혁신을 가져왔습니다. "품질을 눈으로 확인"이라는 슬로건을 내세운 이 기술은 고주파 초음파를 사용하여 공극, 기포, 개재물 및 박리 등의 내부 결함을 시각화합니다.

C-SAM/SAT (Scanning Acoustic Microscope)

기술 사양:

  • 물리적 차원제품 크기: 1100mm×1020mm×1550mm, 싱크대 크기: 645mm×750mm×155mm.

  • 스캔 성능유효 측정 범위 400mm×320mm×120mm; 최대 속도 1200mm/s; 권장 해상도 1–4000μm.

  • 코어 테크5~500MHz의 송수신 대역폭, 1GHz/s의 DAQ 샘플링 속도, 그리고 안정적인 작동을 위한 통합 상하수도 시스템을 갖추고 있습니다.

  • 유연성수동, 반자동 및 자동(온라인) 로딩 모드를 지원합니다.

모델 변형:

  • 샘 라인다양한 검사 요구사항을 충족하는 표준 모델입니다.

  • 샘 오토 라인고급 자동화 버전으로, 밝은 회색 본체에 파란색 포인트가 들어가 있으며, 투명한 전면 패널과 팔레트 처리를 위한 내부 로봇 팔이 특징입니다. 작업 흐름은 다음과 같습니다.적재 → 스캐닝(600달러 초음파 시스템) → 하역 → 팔레트 순환이를 통해 지속적인 작동이 가능합니다.

응용 프로그램IGBT/MOSFET 모듈, 방열판, 칩, 다결정 다이아몬드 컴팩트, 세라믹 및 MEMS에 널리 사용됩니다. 샘 자동 라인은 IGBT 검사, 접합 검사 및 MEMS 분석에 탁월한 성능을 자랑합니다.자동 결함 검토 소프트웨어 패키지전체 모듈을 평가하여 인적 오류를 줄입니다.

Scanning Acoustic Microscope

장점고해상도(서브마이크론 결함 감지)와 빠른 스캐닝을 결합하여 엄격한 산업 표준을 준수합니다. 모듈식 설계로 다양한 생산 라인에 적용 가능하며, 자동화된 샘 자동 Line은 수동 시스템 대비 처리량을 30% 향상시킵니다.

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